薄膜測厚試驗儀-思克

v> 應(yīng)用范圍  適用于塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。

主要特點  

? 接觸式測量原理

? 德國測厚傳感器

? 工業(yè) TFT 屏，觸摸屏操作

? 零導(dǎo)航深度的扁平化界面 UI，操作更加方便快捷

? 真彩色液晶顯示試驗數(shù)據(jù)、結(jié)果

? 手動、循環(huán)、預(yù)約定時多種測量模式

? 測試過程全自動完成

? 內(nèi)嵌最*值、最小值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)差數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析功能

? 本機(jī)內(nèi)置歷史數(shù)據(jù)查詢功能

? 配置微型打印機(jī)，可自動打印單次、統(tǒng)計報告

? 配置標(biāo)準(zhǔn)通信接口

? 可支持 DSM 實驗室數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)，實現(xiàn)數(shù)據(jù)統(tǒng)一管理（選購）

技術(shù)指標(biāo)  

測量范圍：0～2mm（標(biāo)配） 0～10mm（可選）

分 辨 率：0.1μm  

測量速度：1~25 次/min（可調(diào)）

測 量 頭：薄膜：50mm2，17.5±1kPa（標(biāo)配） 紙張：200mm2，50±1kPa（可選）  

電 源：AC 220V 50Hz  

外形尺寸：330 mm (L)×285 mm (B)×370 mm (H)  

凈 重：38kg  

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)  GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、 ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、 BS 4817

薄膜測厚試驗儀-思克

產(chǎn)品配置  

標(biāo)準(zhǔn)配置：主機(jī)、薄膜測量頭、微型打印機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)量塊一件

選 購 件：紙張測量頭、自動進(jìn)樣裝置、配套軟件、通信電纜、標(biāo)準(zhǔn)量塊、DSM 實驗室數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)

注：產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格如有變更，恕不另行通知，SYSTESTER 思克保留修改權(quán)與最終解釋權(quán)！